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產(chǎn)品中心電力設(shè)備電阻測(cè)試儀
product
產(chǎn)品分類(lèi)
北京四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀是一種依照類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。 該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)。
更新時(shí)間：2024-10-17
產(chǎn)品型號(hào)：SN/ST-21
瀏覽量：1595
北京雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 RTS-9型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱(chēng)雙位組合）測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。
更新時(shí)間：2024-10-17產(chǎn)品型號(hào)：SN/RTS-9瀏覽量：925
北京單晶硅物理測(cè)試儀運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析。
更新時(shí)間：2024-10-17產(chǎn)品型號(hào)：SN/RTS-4瀏覽量：1011
北京數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析。
更新時(shí)間：2024-10-17產(chǎn)品型號(hào)：SN/RTS-8瀏覽量：1173
北京直流低電阻測(cè)試儀2513直流低電阻測(cè)試儀量程范圍為200 mΩ－2 kΩ，10 μA－100 mA的測(cè)試電流。適用于小型變壓器及電感線圈銅阻, 繼電器接觸電阻, 開(kāi)關(guān), 接插件接觸電阻, 導(dǎo)線電阻, 元件焊點(diǎn)接觸電阻印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷等。
更新時(shí)間：2024-10-17產(chǎn)品型號(hào)：SN/2513瀏覽量：923